ogib elektrona

ogib elektrona, difrakcija elektrona (engl. electron diffraction; njem. Elektronenbeugung; rus. дифракция электронов), neravnocrtno rasprostiranje elektrona kroz tvar zbog ogibanja na atomima koji se nalaze na njihovu putu. Primjenjuje se za istraživanje kristalne strukture tvari, tankih filmova, površina tijela, plinova i malih uzoraka debljine manje od 1 mm (tzv. transmisijska elektronska difrakcija). Većinom se izvodi s elektronima visoke energije, pri čem su valne duljine elektrona reda vrijednosti konstante rešetke većine kristala (→ monokristal) ili manje. Na njemu se zasniva transmisijska elektronska mikroskopija. Ogib elektrona potvrđuje de Broglievu zamisao (1923) da tvar na razini mikrosvijeta ima i čestična i valna svojstva. → ogib